Разработан новый метод анализа материалов с помощью лазерной микроскопии
Исследователи из Университета Пенсильвании разработали вычислительную систему, которая позволяет анализировать изображения, полученные с помощью нелинейной оптической микроскопии, для детальной характеристики материалов на микроскопическом уровне.
Слева направо: аспирант Альберт Сучева, профессор Венкатраман Гопалan и аспирант Саугата Саркер изучают полярные домены с помощью нелинейной оптической микроскопии. Автор: Seana Wood / Penn State
«Нелинейная оптическая микроскопия — важный инструмент, который может раскрыть структурную информацию о различных материалах», — пояснил ведущий автор исследования Альберт Сучева.
В отличие от обычного зрения, которое работает через линейные оптические взаимодействия, нелинейная микроскопия использует сфокусированные лазерные лучи высокой интенсивности. Это позволяет получать новые оптические сигналы, которые формируют изображение и содержат информацию о структуре материала.
«Наш подход фокусируется на моделировании эффектов, которые оказывает плотная лазерная фокусировка на поляризацию света, взаимодействующего с образцом», — отметил Сучева.
Профессор Венкатраман Гопалan добавил: «Свет действительно централен для восприятия нашего мира. Визуализация с помощью света очень фундаментальна, и мы постоянно ищем новые способы визуализации вещей».
Исследователи протестировали свою систему на различных эталонных материалах, сравнив результаты с известными свойствами. По словам Сучевы, это позволяет извлекать количественную информацию из образцов, что критически важно для разработки новых материалов.
«Наша система пытается выйти за рамки простого "посмотри и увидишь", чтобы фактически объяснить, почему изображение выглядит именно так», — сказал Сучева.
Разработка может помочь стандартизировать подход к анализу данных в сообществе нелинейной оптики и улучшить воспроизводимость характеристик материалов.
Исследование опубликовано в журнале Optica.
0 комментариев