Китайские учёные совершили прорыв в тестировании пластин для микро-LED

ТЯНЬЦЗИН — Китайские исследователи совершили прорыв в тестировании пластин для микро-LED, разработав неразрушающий метод обнаружения дефектов. Это решение устраняет давнюю проблему в электролюминесцентной инспекции технологии микро-LED, которая считается фундаментальной для дисплеев следующего поколения.

Традиционные методы тестирования имеют серьёзные ограничения: одни необратимо повреждают поверхность пластин, а другие страдают от низкой точности из-за высокого процента пропущенных дефектов и ложных срабатываний.

Отсутствие надёжного неразрушающего контактного тестирования было узким местом в массовом производстве микро-LED, особенно для крупноформатных и гибких дисплеев.

Команда профессора Хуан Сяня из Тяньцзиньского университета (Северный Китай) решила эту проблему. Их прорывная разработка была недавно опубликована в журнале Nature Electronics.

«Контактное давление наших гибких зондов составляет всего одну десятитысячную от давления обычных жёстких зондов», — пояснил Хуан. «Это не только сохраняет поверхность пластины, но и значительно продлевает срок службы зонда. Даже после миллиона контактных циклов зонды остаются в исходном состоянии».

Для поддержки этой инновации команда также разработала специализированную измерительную систему, которая интегрируется с гибкими зондами, обеспечивая точный контроль процесса и эффективный отбор пластин по выходу годных.

В настоящее время технология проходит этап коммерциализации в инновационном парке Тянькай в Тяньцзине.

Микро-LED — это перспективная технология для дисплеев будущего, предлагающая высокую яркость, энергоэффективность и долговечность. Её внедрение сдерживалось именно сложностями массового производства, поэтому данное открытие может ускорить появление микро-LED продуктов на рынке.