Xiaomi ответила на критику 300 000-часового тестирования смартфонов

В интернете появилось множество видеороликов, критикующих заявление компании Xiaomi о 300 000-часовом тестировании смартфонов перед выпуском на рынок.

Сообщается, что критики ссылаются на контент 2021 года, когда глава Xiaomi Лэй Цзюнь (Lei Jun) посещал лабораторию испытаний на стабильность вместе с представителем компании Су Бинтянем (Su Bingtian). В лаборатории демонстрировалась работа 1800 смартфонов в автоматическом режиме, выполняющих повседневные операции: просмотр Douyin, использование WeChat и совершение звонков.

Лэй Цзюнь тогда заявил, что каждая новая модель телефона проходит в этой лаборатории испытания продолжительностью более 300 000 часов. Критики подвергли сомнению эти цифры, подсчитав, что 300 000 часов, поделенные на 24 часа в сутках и 365 дней в году, составляют около 34 лет.

Генеральный директор по связям с общественностью Xiaomi Ван Хуа (Wang Hua) ответил на критику: «Так называемое 300 000-часовое тестирование — это отраслевой стандарт. Это одновременное тестирование телефона на тысячах тестовых устройств, имитирующих сценарии использования в течение нескольких месяцев. Интернет теперь позволяет многим людям получать доступ к информации, выходящей за рамки их текущих знаний. Поэтому я искренне верю, что это понятно, если кто-то этого не понимает».

Фактически, при использовании 1800 смартфонов в автоматизированной системе тестирования общее время в 300 000 часов для одной модели может быть достигнуто примерно за 7 дней (1800 единиц × 24 часа × 7 дней ≈ 302 400 часов).

Один из блогеров прокомментировал: «Похоже, некоторые не способны понять, что в этом мире, помимо ожидания в очереди по одному, существуют процессы, происходящие одновременно».

Интересный факт: Подобные методы нагрузочного тестирования распространены в IT-индустрии. Например, Google и Apple также используют тысячи устройств для одновременного тестирования стабильности операционных систем и приложений перед выпуском крупных обновлений. Это позволяет выявить проблемы, которые невозможно обнаружить при тестировании на отдельных устройствах.